Новости О компании Контакты Публикации
Референс-лист Ваши отзывы Заказ товара
На главную Написать нам письмо
НПФ «Шибболет»
 РУС   ENG
Продукция
РАЗРАБОТКА
АНАЛИТИЧЕСКИЕ КОМПЛЕКСЫ
СИГНАЛИЗАТОРЫ
АНАЛИТИЧЕСКОЕ И ВСПОМОГАТЕЛЬНОЕ ОБОРУДОВАНИЕ
РАСХОДОМЕРЫ
АНАЛИЗАТОРЫ
Продукция
СПЕКТРОМЕТРЫ

Комбинированный сверхвысоковакуумный оже-спектрометр

Метод электронной Оже-спектроскопии (ЭОС) - один из самых распространенных методов анализа элементного и химического состава поверхностей твердых тел. Основные преимущества такого метода: высокая чувствительность при проведении элементного анализа приповерхностной области толщиной 0,5-2 нм, быстрота получения информации и возможность обнаружения всех элементов, следующих за гелием в таблице Менделеева. Оже-спектр дает надежную количественную информацию о составе приповерхностного слоя, а во многих случаях — и сведения о химических связях. Первоначально ЭОС использовалась только для научных исследований, но сейчас она превратилась в стандартный метод лабораторного анализа. Она применяется в таких областях, как полупроводниковая технология, металловедение, катализ, минералогия и анализ полезных ископаемых, выращивание кристаллов. Круг ее применений быстро расширяется.



Технические характеристики

 

  • Диапазон измерения концентраций элементов: 0,1 - 100% ат.;
  • Локальность анализа по поверхности объекта: 100 - 5мкм;
  • Энергия первичных электронов: 0,5-5 кэВ;
  • Предельное давление остаточных газов в аналитической камере: 2,6*e-8Ра;
  • Время загрузки образца с атмосферы в аналитическую камеру: 30мин;
  • Плотность ионного тока (макс): 500мкА/см 2;
  • Диаметр ионного пучка: 120мкм;
  • Энергия ионов: 1-5кэВ;
  • Температура прогрева исследуемых объектов: до 1200оС;
  • Регистрация оже-спектров: энергоанализатор с разрешением 0,25% (ЦЗА);
  • Напыление плёнок металлов на исследуемый объект: малогабаритный термический испаритель;
  • Очистка образца и его послойное распыление:  ионная пушка с газоразрядным ионизатором и дифференциальной откачкой;
  • Изучение поверхностных структур монокристаллических объектов методом ДМЭ (дифрактометр медленных электронов) с прозрачным коллектором;       

 

Проводится оперативный послойный и поверхностный анализ на предприятии изготовителе.



© НПФ «Шибболет» 2005-2011
Создание сайта - ИноТех